Applied Logistic Regression
Autor: Hosmer, David W. (University of Massachusetts, Amherst, MA); Lemeshow, Stanley (The Ohio State University (OSU), Columbus, OH); Sturdivant, Rodney X. (Center for Data Analysis and Statistics at the United States Military Academy in West Point, NY)
Disponibilitate: LIVRARE IN 4-6 saptamani (produsul este livrat din Marea Britanie)
SKU:
9780470582473
818.99 RON
Okian.ro este o LIBRARIE online de carte in limba engleza.
CITESTE MAI MULT
Detalii
Descriere RO
Aceasta este o carte in limba engleza. Descrierea cartii (tradusa din engleza cu Google Translate) este in limba romana din motive legale.