Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
Autor: Wallis, T. Mitch; Kabos, Pavel
Disponibilitate: LIVRARE IN 4-6 saptamani (produsul este livrat din Marea Britanie)
SKU:
9781107120686
886.99 RON
Okian.ro este o LIBRARIE online de carte in limba engleza.
DETALII
Citeste mai mult
Descriere RO
AutorWallis, T. Mitch; Kabos, Pavel
EdituraCambridge University Press
Dimensiuni253 x 178 x 18
Data Publicarii14/09/2017
FormatCartonata
Numar pagini328

