Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms
Autor: Chen, Yen-Wei; Ruan, Xiang; Jain, Rahul Kumar
Disponibilitate: LIVRARE IN 4-6 saptamani (produsul este livrat din Marea Britanie)
SKU:
9783031598135
1009.99 RON
Okian.ro este o LIBRARIE online de carte in limba engleza.
DETALII
Citeste mai mult
Descriere RO
EdituraSpringer International Publishing AG
Dimensiuni235 x 155
Data Publicarii01/06/2025
FormatNecartonata
Numar pagini119

