Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor: Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
Disponibilitate: LIVRARE IN 4-6 saptamani (produsul este livrat din Marea Britanie)
SKU:
9781493966745
681.99 RON
Okian.ro este o LIBRARIE online de carte in limba engleza.
CITESTE MAI MULT
Detalii
Descriere RO
Aceasta este o carte in limba engleza. Descrierea cartii (tradusa din engleza cu Google Translate) este in limba romana din motive legale.